News |
15.12.2022
Optische Tests für AR/VR-Headsets
Ein brauchbares Anwendererlebnis mit AR/VR-Headsets erfordert in der Produktion umfangreiche, schnelle und hochpräzise optische Tests. Instrument Systems bietet für diese Herausforderungen die speziell entwickelte 2D-Farbmesskamera Lumitop AR/VR an. Das AR/VR- Objektiv der Lumitop bildet das menschliche Auge möglichst naturgetreu nach und misst Farbe und Leuchtdichte so, wie es das Auge sieht. Das Periskop-Design ermöglicht synchronisierte 2-Augen-Messungen. Und das bewährte Lumitop-Prinzip garantiert sehr schnelle, rückführbare und hochgenaue Messungen. Auf der zeitgleich laufenden Konferenz Spie AR/VR/MR ist Instrument Systems im Bereich "Technical Talks" mit einem AR/VR-Beitrag vertreten. Dr. Tobias Steinel referiert zum Thema "Validating distortion measurements of wide-field-of-view near-eye displays".
Polarisationskontrollierter Vcsel-Test
Instrument Systems präsentiert auf der Photonics West 2023 seine kürzlich prämierte Infrarotkamera VTC 4000 zur Nahfeldanalyse von schmalbandigen Emittern wie z.B. Vcsel oder Lasern. Industrieübliche Vcsel emittieren in mehr als einem Polarisationszustand mit jeweils unterschiedlichen Polarisationswinkeln und erschweren so ihre fehlerfreie Vermessung. Dank neuartigem One-Shot-Verfahren misst die VTC 4000 simultan die räumliche Polarisation einzelner Emitter eines Arrays und liefert notwendige Informationen, um die Polarisationsabhängigkeit des Messaufbaus zu reduzieren. Dieses Vorgehen minimiert das Fehlerbudget des Vcsel-Testsystems und liefert hochgenaue Messwerte für die Augensicherheit der Laserquelle. Hersteller können hierdurch die volle Leistungseffizienz von Vcsel/Lasern ausschöpfen und gleichzeitig einen sicheren Betrieb gewährleisten.
Messsystem für μLED-Tests umgeht Erwärmungseffekt
Die spektral erweiterte 2D-Farbmesskamera Lumitop 4000 ist für die Prüfung von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen geeignet. Die 12 MP Kamera misst die Einzel-LEDs des Arrays simultan und umgeht durch ihre hohe Messgeschwindigkeit die Temperaturabhängigkeit von Hochleistungs-LEDs. In Kombination mit einem Highend-Spektralradiometer CAS 140D liefert das auf Leuchtdichte (in cd/m²) kalibrierte System hochgenaue Messwerte. Dadurch ist es insbesondere für die Qualitätskontrolle von Gleichförmigkeit, Helligkeit und Farbe bei μLED-Arrays hervorragend geeignet.
Weitere Informationen
- Spie Photonics West, Stand 4106
28. Januar – 2. Februar 2023, San Francisco, USA - Spie AR/VR/MR, Stand 107
30. Januar – 1. Februar 2023, San Francisco, USA
