Fachartikel |
28.05.2013
Die Eigenschaften von Halbleiterlichtquellen unterscheiden sich weitgehend von denen der Glüh-, Halogen- und Entladungslampen. Ihr Betrieb und die Messung ihrer optischen Eigenschaften erfordert es, zusätzliche Begriffe zu definieren und besondere Messbedingungen und Messgrößen anzugeben. Diese Ergänzungen und ihre Abgrenzung zu bestehenden Angaben und Festlegungen werden in diesem Norm-Entwurf angegeben.
Geltungsbereich
Der Norm-Entwurf gilt für optische Messungen an Halbleiterlichtquellen soweit diese inkohärente optische Strahlung emittieren. Halbleiterlichtquellen im Sinne dieses Normentwurfs sind einzelne Leuchtdioden (Licht emittierende Dioden) der Arten LED (anorganisch) und OLED (organisch) sowie Kombinationen aus mehreren Objekten derselben Art in verschiedenen zwei oder dreidimensionalen Strukturen, die hier als Arrays, Cluster, Module, Lampen und Leuchten unterschieden und namentlich festgelegt werden.
Insbesondere werden die geometrischen Anordnungen, die elektrischen und thermischen Betriebsbedingungen und die Messung der Werte von photometrischen, farbmetrischen und spektralradiometrischen Größen behandelt.
Geltungsbereich
Der Norm-Entwurf gilt für optische Messungen an Halbleiterlichtquellen soweit diese inkohärente optische Strahlung emittieren. Halbleiterlichtquellen im Sinne dieses Normentwurfs sind einzelne Leuchtdioden (Licht emittierende Dioden) der Arten LED (anorganisch) und OLED (organisch) sowie Kombinationen aus mehreren Objekten derselben Art in verschiedenen zwei oder dreidimensionalen Strukturen, die hier als Arrays, Cluster, Module, Lampen und Leuchten unterschieden und namentlich festgelegt werden.
Insbesondere werden die geometrischen Anordnungen, die elektrischen und thermischen Betriebsbedingungen und die Messung der Werte von photometrischen, farbmetrischen und spektralradiometrischen Größen behandelt.
Ausnahmen
Der Norm-Entwurf befasst sich nicht mit Halbleiterstrahlern für kohärente optische Strahlung (Laser) und auch nicht mit Grenzwerten zur Bewertung der Strahlungssicherheit. Er kann und soll aber verwendet werden soweit der Betrieb, die Ausrichtung und allgemein die Messverfahren für die Werte optischer Eigenschaften betroffen sind.
Stellungnahme
Seit der Veröffentlichung sind bis zum 27.09.2013 Stellungnahmen möglich: als Datei per E-Mail an fnl@din.de in Form einer Tabelle. Die Vorlage dieser Tabelle kann im Internet unter www.din.de/stellungnahme abgerufen werden; oder in Papierformat an den Normenausschuss Lichttechnik (FNL) im DIN Deutsches Institut für Normung e. V., 10772 Berlin (Hausanschrift: Am DIN-Platz, Burggrafenstraße 6, 10787 Berlin).
Der Norm-Entwurf befasst sich nicht mit Halbleiterstrahlern für kohärente optische Strahlung (Laser) und auch nicht mit Grenzwerten zur Bewertung der Strahlungssicherheit. Er kann und soll aber verwendet werden soweit der Betrieb, die Ausrichtung und allgemein die Messverfahren für die Werte optischer Eigenschaften betroffen sind.
Stellungnahme
Seit der Veröffentlichung sind bis zum 27.09.2013 Stellungnahmen möglich: als Datei per E-Mail an fnl@din.de in Form einer Tabelle. Die Vorlage dieser Tabelle kann im Internet unter www.din.de/stellungnahme abgerufen werden; oder in Papierformat an den Normenausschuss Lichttechnik (FNL) im DIN Deutsches Institut für Normung e. V., 10772 Berlin (Hausanschrift: Am DIN-Platz, Burggrafenstraße 6, 10787 Berlin).
