Home News Technik Vollständige optische Waferprüfung für Mikro-LEDs von Instrument Systems

Lumitop 4000

Vollständige optische Waferprüfung für Mikro-LEDs von Instrument Systems

μLEDs sind bekannt als herausfordernde neue Display-Technologie. Sie sind kleiner als 100 Mikrometer und besitzen außergewöhnliche optische Eigenschaften. So lassen sich Displays mit breitem Farbumfang, einem hohen Kontrast sowie einer sehr hohen Auflösung herstellen. Insbesondere in der Massenproduktion entstehen genau dadurch neue Herausforderungen für die optischen Qualitätstests, die in jedem Produktionsschritt, also auch bereits auf Wafer-Level, erforderlich sind. Herkömmliche Standardtests können das nicht leisten.

Für ein effizientes Testen von Tausenden von μLEDs auf einem Wafer muss der Prüftest parallelisiert werden. Dies ist auch eine Herausforderung für den Hersteller, der dafür möglichst viele μLEDs zeitgleich kontaktieren muss. Zusätzlich soll die optische Prüfung schnell und genau sein und synchron zum getakteten Produktionsfluss laufen. Das funktioniert nur mit einer 2D-Messung über spezifisch kalibrierte Geräte zur Vermeidung von Messfehlern.

Die innovativen 2D-Kamera-Systeme der Lumitop-Familie von Instrument Systems bieten eine schnelle und in der Produktion etablierte Lösung. Die 2D-Kamera wird kombiniert mit einem Highend-Spektralradiometer, das als simultanes Referenzmessgerät für hochgenaue Messergebnisse sorgt. Die Lumitop-Familie bietet für Testobjekte jeder Größe eine spezielle Ausführung. Die neue Lumitop 4000 mit 100-mm-Objektiv ist besonders gut geeignet für die Anwendung μLED-Wafertesting. Bei einem FoV (Sichtfeld) von ungefähr 1,0 cm mal 1,4 cm können potentiell viele tausende µLEDs mit einer minimalen Pixel-Größe bis zu 30 µm gleichzeitig vermessen werden. Ein Hardware-Trigger synchronisiert die Kamera mit der vorgegebenen Taktzeit. Der Cmos-Sensor bietet einen besonders großen Dynamikbereich.

Optische Waferprüfung für Mikro-LEDs an einer Teststation von Instrument Systems
Die kamerabasierte Messlösung mit der Lumitop 4000 erlaubt in Kombination mit einem 100 mm Makro-Objektiv die schnelle und parallele Analyse der μLEDs eines Wafers.
(Bild: Instrument Systems)

Die dazugehörige umfangreiche Lumisuite-Software ermöglicht vielseitige Analysen der Messergebnisse. So ist unter anderem die Erstellung einer Pixel-Intensity-Map bzw. Farb-Map möglich. Algorithmen können über wählbare Kriterien nach Pixeldefekten suchen und diese markieren. Die Lumitop-Systeme sind sowohl für den Einsatz im Labor als auch in der Produktionslinie geeignet.

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Instrument Systems
München
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