Home News Technik Subpixel-Metrologie von Instrument Systems

Subpixel-Metrologie von Instrument Systems

Hochaufgelöste Nahaufnahme eines OLED-Displays gemessen mit einer Lumi-Top
Hochaufgelöste Nahaufnahme eines OLED-Displays gemessen mit einer Lumi-Top, die in der I-Zone und am Stand zu sehen ist.
Mit seiner neuen ultra-hochauflösenden Variante der Lumi Top hat Instrument Systems ein Messgerät entwickelt, das ein außergewöhnliches technisches Design und ein ebenso besonderses Mess-Portfolio besitzt. Die Kamera bietet eine sehr hohe Genauigkeit bei gleichzeitig extrem schnellen 2D-Messungen. In der Innovationszone der Display Week 2019 kann ein Prototyp dieser Kamera in einer Produktionsanwendung besichtigt werden, für die meist extrem kurze Taktzeiten erforderlich sind.
Am Stand #1528 von Instrument Systems GmbH kommt die Lumi Top in einer AR/VR-Applikation zum Einsatz und charakterisiert eine Mixed-Reality-Brille. Darüber hinaus zeigen die Experten vor Ort weitere Lösungen für die Qualitätskontrolle, automobile Anwendungen und Produktionstests.
Das neue Messgerät kombiniert eine 150-Megapixel-Kamera und eine Flicker-Diode mit einem Highend-Spektralradiometer der CAS-140-Serie. Die äußerst exakten Daten der Spektrometer-Messung werden als Live-Referenz für die Kameramessung herangezogen und garantieren für jeden Kamerapixel eine spektralradiometrische Genauigkeit. Die sehr hohe Auflösung von 150 Megapixeln erlaubt darüber hinaus eine vollständige Display-Charakterisierung auf Pixel-Ebene in einer einzigen Aufnahme. Das neue Lumi-Top-Modell ist somit für eine sehr schnelle und sehr genaue Qualitätskontrolle geeignet sowie Pixelkalibrierungen von OLEDs und μLED Displays in der Produktionslinie.
Verschiedenste Testanwendungen können in einer Messstation durchgeführt werden, wie z.B.
  • die Bestimmung von Homogenität und Mura-Effekten,
  • die Beurteilung von Weißabgleich,
  • Farbraum oder Kontrastverhältnis.
  • Kombiniert mit einem schnellen Photometer ist auch die Messung von Flicker und Leuchtdichte-Modulation möglich.

Für Mixed-Reality-Technologien (AR/VR) sind die Lumi-Top-Modelle als Laborgeräte in der R&D bestens geeignet. Diese innovativen Display-Applikationen setzen auf immer kleinere und dichter gepackte Pixel. Leuchtdichte und Farbabweichungen zwischen Pixeln und Subpixeln sind wahrscheinlich und beeinflussen die visuelle Qualität des Displays stark. Da Augmented-Reality-Brillen oder Virtual-Reality-Headsets sehr nah am Auge des Benutzers sitzen, sind Bildartefakte und Ungleichheiten besonders störend. Exakt für diese sehr hohen Ansprüche hat Instrument Systems die Lumi-Top-Serie entwickelt.
Ein integrierter Pixel-Shift-Mechanismus unterdrückt Demosaicing-Artefakte durch Echtfarbmessungen und erhöht die Auflösung auf 600 Megapixel. Die Lumi-Top-Serie ist in die umfangreiche neue Software "Lumi Suite" eingebunden, die mit einer bedienungsfreundliche Benutzeroberfläche für Laboranwendungen und ein Software-Development-Kit zur einfachen Integration in Produktionslinien ausgestattet ist.
Neben diesem Highlight sind am Stand #1528 weitere modernste Lichtmesstechniken an photometrischen und spektralradiometrischen Messstationen zu sehen:
Instrument Systems präsentiert ein vollständiges Messsystem aus Array-Spektralradiometer CAS 140D und Positioniersystem DTS 140. Array-Spektrometer nehmen das gesamte Spektrum einer Lichtquelle in einer einzigen Messung auf und können daher sehr kurze Messzeiten von wenigen Millisekunden realisieren. Die hohe Messgenauigkeit und die Durchsatzoptimierung ermöglichen ebenso die Charakterisierung von Low-Lumen bzw. μLEDs. Typische Anwendungsbereiche sind die Display-Produktion und KFZ-Innenbeleuchtung.
Das Design des vor kurzem eingeführten CAS 120B-HR ist speziell auf die Messung von schmalbandigen Emissionsquellen wie z.B. Laserdioden (auch Vcsel genannt) ausgerichtet. Mit seiner sehr hohen spektralen Auflösung von bis zu 0,12 nm Halbwertsbreite und besonders kurzen Integrationszeiten bis minimal 4 ms sind schnelle Prüfungen in Labor und Produktion möglich. Auch zeitliche Messungen von Laserdioden mit einem gepulsten Betriebsmodus im Nanosekunden-Bereich sind in einem erweiterten Aufbau mit Photodiode umsetzbar und werden am Stand demonstriert.
An dem Display-Messsystem DMS 803 werden die vielfältigen Möglichkeiten zur blickrichtungsabhängigen Bewertung von Displays gezeigt:
  • Motorisierte Positioniereinheit,
  • Temperaturkammer von -40 bis +105°C,
  • Messung des spektralen Reflexionsgrades unter halbräumlich direkter/diffuser Beleuchtung,
  • Bestimmung des Kontrasts von OLED und LC-Displays bei unterschiedlichen Arten von Umgebungslicht u.v.m.
  • Neueste Funktionen ermöglichen die Qualifizierung von gekrümmten Displays.
Instrument Systems - www.instrumentsystems.com
Lumi Top - www.instrumentsystems.com/...lumitop...
Newsletter

Das Neueste von
HIGHLIGHT direkt in Ihren Posteingang!